Kính hiển vi lực nguyên tử: Tosca

( 726 đánh giá ) 2725 lượt xem

Chọn sản phẩm

THÔNG TIN CHUNG

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) cấp cao nhất cho ngân sách nhỏ: với thiết lập đo nhanh nhất và biên độ mẫu lớn nhất, dòng Tosca luôn đáp ứng nhu cầu phân tích bề mặt nano AFM của bạn.

Tosca là sự lựa chọn hàng đầu cho các nhà nghiên cứu, nhà tiên phong, nhà tư tưởng và nhà sáng tạo trong khoa học vật liệu công nghệ nano.

Việc chuyển đổi chế độ bằng cách thay linh kiện: Tosca cho phép đo trên cùng một vị trí chính xác bằng cách sử dụng tất cả các chế độ có sẵn được kết hợp trong cùng một linh kiện.

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

	Tosca 400
Máy quét
Khoảng scan X-Y	100 µm x 100 µm
Khoảng scan Z	15 µm
Tốc độ quét tối đa	10 hàng/s
Mẫu
Đường kính mẫu tối đa	100 mm (200 mm***)
Độ cao mẫu tối đa	25 mm (2 mm***)
Trọng lượng mẫu tối đa	<600 g
Vị trí lặp lại (đơn hướng)	<1 µm
Kính hiển vi video
Camera	Cảm biến màu, 5 megapixel, CMOS
Khoảng nhìn thấy	1.73 mm x 1.73 mm
Độ phân giải không gian	5 µm
Tiêu điểm	Tiêu điểm có động cơ
Máy ảnh tổng quan
Camera	Cảm biến màu, 5 megapixel, CMOS
Khoảng nhìn thấy	40 mm x 40 mm
Độ phân giải không gian	50 µm
Máy ảnh nhìn từ bên
Máy ảnh nhìn từ bên	Đen trắng, phạm vi quan sát 30 mm
Chế độ
Chế độ tiêu chuẩn	Chế độ tiếp xúc, chế độ khai thác (bao gồm cả hình ảnh pha), kính hiển vi lực bên, đường cong khoảng cách lực
Các chế độ tùy chọn	Hình ảnh biên độ cộng hưởng tiếp xúc, kính hiển vi lực từ, kính hiển vi lực thăm dò Kelvin, kính hiển vi lực tĩnh điện, kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện, kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điều khiển dòng điện
Kích thước và trọng lượng
Kích thước (D x R x C), bộ phận AFM	490 mm x 410 mm x 505 mm
Kích thước (D x R x C), bộ điều khiển	340 mm x 305 mm x 280 mm
Trọng lượng, bộ phận AFM	51.1 kg
Trọng lượng, bộ điều khiển	7.8 kg

* tùy chọn nâng cấp lên 90 µm x 90 µm

** tùy chọn nâng cấp lên 12 µm hoặc 15 µm
*** khi sử dụng Giai đoạn Wafer (tùy chọn)
Tosca là thương hiệu đã đăng ký (013412143) của Anton Paar.

ƯU ĐIỂM CN/TB

Các tính năng thông minh, được cấp bằng sáng chế bao gồm từng bước trong quy trình đo AFM tạo ra một quy trình AFM độc đáo, được sắp xếp hợp lý cho phép ra kết quả nhanh hơn 10 lần so với các hệ thống AFM thông thường.

Thay vì dành nhiều ngày học cách vận hành AFM, hãy bắt đầu đo sau 1 giờ. Tải cantilever nhanh chóng và an toàn chỉ trong vài giây, căn chỉnh bằng tia laser tự động, điều hướng mẫu trực quan nhất và quy trình tham gia an toàn nhất trên thị trường giúp bạn có nhiều thời gian hơn để tập trung vào kết quả nghiên cứu của mình.